維射線傳輸和折射方程在光學中，要在系統中追蹤任意光線，我們需要兩個基本的三維方程:傳遞方程和折射方程。射線從表面j-1到下面的表面j的傳遞方程為這里分別是射線與前一個曲面j?1和下一個曲面j相交的點。為兩個曲面頂點之間的軸上距離，為兩個曲面之間的射線方向余弦，如下圖所示。由斯涅爾定律推導出三維射線折射方程。斯涅爾定律指出，入射光線和折射光線在入射點與表面法線共面，它們之間的關系為這里n，n'是材料在折射面前后的折射率，I，I'是入射光線和折射光線與表面法線的夾角。斯涅爾定律可以寫成向量形式這里，r，r'是沿入射射線和折射射線的單位向量，而n是沿入射點表面法線的單位向量。 ...

直光束T0和折射率n已知。因為對吸收性濾光片來說，T0與波長有很大的線性關系，與入射角度有關的相對透射率Trel也與波長密切相關。1.4傳感器角度響應取決于傳感器技術、傳感器類型、波長和微透鏡。通常它不是各向同性的。圖1:KAI-16070對單色光(未知波長)的角度線性靈敏度。參考:KAI-16070的 數據表圖2 CMX4000白光的角度線性靈敏度如這些示例所示，對于不同類型的傳感器，角度響應可能完全不同。因為這種效應還 取決于波長和單個傳感器(每個傳感器表現出稍微不同的行為)，取決于波長的校準是必要的。兩個傳感器都顯示出各向異性。為了考慮校準中的各向異性，需要比僅在x和y方向上更復雜的測量 ...

允許對具有弱折射率的結構進行成像，以及對相位結構進行定量測量。已證明的成像方式包括：螺旋相位成像、暗場成像、相位對比成像、微分干涉對比成像和擴展景深成像。美國MeadowlarkOptics公司專注于模擬尋址純相位空間光調制器的設計、開發和制造，有40多年的歷史，該公司空間光調制器產品廣泛應用于自適應光學，散射或渾濁介質中的成像，雙光子/三光子顯微成像，光遺傳學，全息光鑷(HOT)，脈沖整形，光學加密，量子計算，光通信，湍流模擬等領域。其高分辨率、高刷新率、高填充因子的特點適用于PSF工程應用中。圖1. Meadowlark 2022年最新推出1024 x 1024 1K刷新率SLM一、空間光 ...

效。六、利用折射球面的反常區。在一個光學系統中，負的發散面或負透鏡常是為校正正透鏡的像差而設置的,它們只能是少數。因此,讓正的會聚面處于反常區,使其在對光束起會聚作用的同時，產生與發散面同號的像差就顯得特別有利。設計者應善于利用這一性質。七、利用透鏡或透鏡組處于特殊位置時的像差性質。例如處于光闌位置或與光闌位置接近的透鏡或透鏡組，主要用于改變球差和彗差（用整體彎曲方法）；遠離光闌位置的透鏡或透鏡組，主要用來改變像散、畸變和倍率色差。在像面或像面附近的場鏡可以用來校正像面彎曲。八、對于對稱型結構的光學系統，可以選擇成對的對稱參數進行修改。作對稱性變化以改變軸向像差，作非對稱性變化以改變垂軸像差。 ...

外包層是一種折射率較低的摻氟二氧化硅（SiF）材料，這意味著激光僅與光纖內的玻璃材料相互作用，使其非常可靠且對溫度不敏感（高達200°C）我們仔細甄選了纖芯成分，從而獲得了高效率（每根新光纖上測試的功率轉換效率都高于40%）和低的1μm放大自發輻射，這也是10年來開發的iXblue鉺鐿共摻光纖一直被認可的標記。“使用高溫雙層丙烯酸酯涂層（HTC）可將長期工作溫度范圍提高至125°C，使IXblue全玻璃有源光纖成 為惡劣環境下1.5μm激光雷達的理想解決方案。”iXblue產品線經理Arnaud Laurent 解釋道。全玻璃設計保證泵浦激光僅僅與光纖中玻璃材質接觸，確保在苛刻使用環境中長期運 ...

，從而使材料折射率產生移動的周期性變化。這在材料中充當布拉格衍射光柵，使輸入到器件的激光束以適當的角度偏轉。根據AOM的配置，多達90%的入射功率可以分配到布拉格光柵的①級衍射。調制是通過改變使用的射頻信號來實現的。在AOM中，通過壓電換能器在材料中形成布拉格光柵。技術比較對于大多數應用，EOM和AOM之間的選擇是基于幾個關鍵的性能和成本考慮。由于AOM通常是一個成本較低的選擇，除非應用方面對EOM的關鍵優勢之一有重大需求，一般AOM都是不錯的選擇。與AOM相比，EOM具有更大的孔徑、更高的功率和脈沖能量兼容性、非常高的對比度和快速的上升時間。而AOM則可以提供更高的調制速度。下表中總結了一些 ...

芯通常是不同折射率的石英材料，恰好這兩種石英材料的適用溫度又較高，工程師們會將光纖布置在溫度較高的地方，此時涂覆層的機械強度就可能降低。在這些惡劣的環境中，震動，氣流，水壓，油霧，鹽霧等會使光纖容易破損從而斷裂失效。問題在于，就是這些環境惡劣的地方，施工和維修都變得困難。因此在高溫環境下，樹脂類涂覆層可能并不是很好的選擇。第②個問題就是低溫，上文講到，高溫會使膠失效，同樣的，低溫也會。在較低的溫度下，例如零下30℃，這個溫度通常是我國北方冬季夜晚的溫度。工程師通常利用地下敷設的方式來降低這種影響。由于低溫的存在，樹脂材料或聚合物往往變得很脆，結合石英本身脆性的增加，光纖更加容易破碎。現代通信光 ...

水凝膠薄膜厚度測量MProbe VisHC系統提供強大且易于使用的解決方案，允許直接在產品上測量層。手動探頭MP-FLVis通過柔性光纖電纜連接到系統。探頭符合樣品的曲率，可以方便地進行精確測量。它用于測量大于1英寸(25mm)的零件。較小的測點(<200μm)減小了后反射率的影響。MProbe VisHC軟件對HC膜采用厚膜算法，對防霧涂層采用曲線擬合算法。算法可以很容易地調整/訓練，以測量甚至具挑戰性的樣本。測量過程是容易的，沒有經驗的操作員使用和理解。水凝膠薄膜有許多應用。它是一種有趣的應用是生物傳感器，其中水凝膠膜厚度的控制很重要，例如基于熒光的水凝膠傳感器。在其他傳感器中，例如 ...

像散校正光纖光譜儀-交叉車爾尼設計與展開式車爾尼設計什么是 ARIEL 光譜儀？散光校正光纖光譜儀使用展開的、固定/ 堅固的Czerny-Turner 光具座，焦距為80 mm。探測器：2048 像素CMOS陣列。USB2.0和1Gb LAN通信接口。所有數據校正/ 調節均在固件中執行。可見光(400nm-1000nm) 和UVVis (200- 1000nm) 波長范圍。為什么選擇 ARIEL 光譜儀？有多種批量生產的光纖光譜儀可供選擇。光譜儀可以被視為商品或關鍵組件，具體取決于應用。在我們的系統中，光譜儀是一個關鍵組件——我們非常關心它的性能和穩定性。在大規模生產的光譜儀中，需要進行工程權 ...

像散校正光纖光譜儀-數據校準和校正光譜儀校準通常被理解為“波長校準”。這確實是絕對必要的，每個光譜儀都必須具備它。但還有很多工作要做：暗信號校正、非線性校正、固定模式噪聲(FPN) 校正和各種數據處理選項，例如Boxcar 平均。這對于有源 CMOS 探測器陣列（如Hamamatsu S11639）尤其重要，其中每個像素都充當獨立探測器。批量生產的光譜儀通常只進行z低限度的校正——足以滿足基本用途。每個像素的信號轉換路徑。有源 CMOS 探測器由獨立的固定硅探測器（像素）組成，每個探測器都有自己的電容器（電荷到電壓轉換）和源極跟隨器。釘扎硅探測器本身具有高度線性并具有相同的暗噪聲。然而，獨立電 ...