線的夾角稱為入射角。振動方向在入射面內的叫的p偏振光，垂直于人射面的叫s偏振光。（2）偏振態偏振態有線偏振、圓偏振和橢圓偏振。上面提到，光波可以分解為xy軸電場振動矢量。然而，當光通過某一樣品時，其偏振態會改變，因為Ex和Ey分量會產生一個位相差，如下圖所示，1.2 光束通過樣品前后的位相變化圖中的相位延遲角δ即為位相差，位相差不同時，偏振態不同。我們將所有的情況都考慮，可以得到下面這個公式：當位相差為0°或180°時可以獲得線偏振光。當δ=90°,并且Ax=Ay時，表示圓偏振光。當位相差是上述以外的其他情況，偏振態的矢量方向是橢圓，這種偏振稱為橢圓偏振。(3)雙折射雙折射有兩個折射率，即在不 ...

1b所示的窄入射角傳播照射，從而導致磁光靈敏度的良好定義條件。實際上，通過將光纖輸出定位在孔徑平面的不同離軸位置來實現所需靈敏度模式的設置。應該注意的是，對于高數值孔徑和高放大倍率物鏡，會發生去偏振效應，導致背景強度增加。這略微降低了信噪比，并對zui佳分析儀設置產生影響，以實現zui佳磁光對比度。此外，所產生的磁光圖像的對比度在很大程度上取決于物鏡的光學傳輸特性，這決定了有效的總體可達強度，因此與相機系統的量子效率一樣重要。光的散射特性和物鏡的偏振質量會影響整體對比度，特別是磁光成像中的信噪比。在高磁場的作用下，物鏡會產生不需要的法拉第旋轉，不僅會導致額外的強度變化，還會導致信噪比的降低。通 ...

雙遠心全景克爾顯微鏡的優勢這一限制可以通過使用完全分離、對稱排列的照明和反射路徑的傾斜顯微鏡裝置來克服。通過這樣的排列，可以獲得接近zui優Kerr振幅的顯著縱向域對比度。這種系統的另一個優點是光學偏振光元件可以布置在透鏡和磁性樣品之間。這消除了在透鏡表面發生的去極化效應，以及上述的法拉第效應與磁場的應用。使用變焦鏡頭，可以實現可變視野。圖1.(a)雙遠心全景克爾顯微鏡的光路(b)飽和后磁場變化的磁電傳感器元件沿傳感器長軸形成的磁疇。磁性樣品的平行照明是由一個準直的大功率LED光源實現的。（a）指出了可旋轉偏振器、補償器和分析器的位置。光圈光圈位于前光學透鏡組的焦平面上。共軛像面相對于光軸是傾 ...

70° 的入射角度下進行 S 偏振的合并，組合后的端口每個單獨的光梳初始強度約為 40%，同時避免在檢測路徑中出現任何諧振腔效應或脈沖重復。來自組合端口的光被衰減并進行光纖耦合，然后在快速光電二極管（Thorlabs，DET08CFC）上檢測兩個光梳的拍頻信號，該光電二極管處于其線性響應區域。為了以組合線分辨率提取氣體靶的光譜信息，我們采用[44]的方法：將干涉圖周期進行相位校正，通過用組合因子Δfrep/frep縮放時間軸并相加將其轉移到光學域。將這個相干平均信號的傅里葉變換與頻移相結合，可以在光學頻率域內獲得組合線分辨率的光譜信息。雙梳激光器的重復頻率frep確定了單個光學組合線之間的間 ...

K，受溫度、入射角和入射光束偏振態的影響。入射角變化1°，NPBS的和變化約5°，和K變化約5％，且變化規律不同步；而溫度引起的相移變化率約為0．12（°）/℃假設×K和+分別變化1%和1°，式(19)給出的橢偏參數誤差約為：此時引入的膜厚測量誤差約為1nm。NPBS2引入的誤差分析根據式(17)，用圖3描述了NPBS2的方位角對橢偏參數測量誤差的影響。（a）幅值比誤差(b)相位差誤差圖3 NPBS2方位角對橢偏參數誤差的影響由圖3可知，NPBS2的對準誤差對相位差測量影響較大。當θ=0.1°時，橢偏參數誤差約為：根據橢偏基本方程和薄膜參數，式(21)的橢偏參數誤差大約導致1～2nm的膜厚測量 ...

A0的光束以入射角θ0入射，經過多次反射與投射，透射出相互平行的光束。設高反膜的反射率為，因此可得第1束透射光的振幅為，后續依次為由等傾干涉可得，相鄰的透射光束的光程差為：由此引起的相位差為：若第1束透射光的初相位為零，因此各光束的相位依次為透射光的振動可以用復數進行表示：我們計算其和振動，其中利用了等比求和公式：其中因此可得：求合振動強度時，針對分式項需要用到他與共軛復數的乘積：因此合振幅的平方為：其中 稱為艾里函數，稱為精細度，體現出干涉條紋的精細程度。當P為固定值時，A2與相關。當時為zui大，時為zui小。因此越大時，可P見度越顯著。圖4 不同精細度的艾里函數圖目前，激光干涉儀技術正處 ...

光在界面1的入射角，、如圖1-1所示，分別是在所測薄膜、基底中的折射角。在圖1-1的模型中，經過多次反射折射后，由多光干涉的公式可得zui終反射系數為：其中，d是膜厚，λ是真空中光的波長，2δ是相鄰兩束反射光的相位差。振幅、相位是描述光波偏振狀態的兩個參數，在橢偏儀中用Ψ、△來表示。其取值范圍是：0≤Ψ≤π/2，0≤△<2π。總反射系數比值定義為ρ，ρ與(Ψ，△)、(Rp，Rs)關系式如下：其中，tgΨ為反射前后P、S光兩分量的振幅衰減比，△=δp?δs為P、S兩分量相位變化差。可以清楚地看到Ψ、△直接給出反射前和反射后光偏振狀態變化。在襯底、入射角、波長等確定已知的條件下，Ψ、△是膜厚 ...

非zui低點入射角觀察地面時，天線平面上的線極化只對應于天線軸線上相同的線極化。在非zui低點角度，來自地面的發射必須進行偏振混合校正;該過程的詳細描述見[20]的附錄a。基于PoLRa的地球物理參數(如土壤濕度)檢索將在未來使用原位土壤濕度傳感器網絡進行驗證。4.討論概述了便攜式L波段輻射計(PoLRa)的設計和特性。給出了詳細的技術討論，以證明該輻射計的硬件功能符合預期，并提供了其噪聲溫度測量不確定度的估計。雖然使用與其他輻射計相似的架構，但PoLRa的天線設計獨特，電子設備簡單，功耗低，成本效益高，無需主動溫度控制。由于采用了新穎的主動冷源(ACS)表征方法，這里介紹的輻射計不需要溫度穩 ...

的應用(不同入射角的橢偏測量、可控氣氛、不同薄膜沉積)。腔室的橫截面如圖1-12(a)右所示。由于三對法蘭配備了熔融硅窗，所以可以進行66°、70°和90°入射角下的橢圓偏振測量。該腔體的設計可以安裝在WoollamM2000旋轉補償橢圓計d的臂上，無需對儀器進行任何修改，本儀器的設計原則上與任何水平安裝的橢偏儀兼容。圖1-12(b)是AlexandreZimmer等人設計的基于旋轉補償的橢偏儀的耦合流池，它直接安裝在測角儀上，可以實現實時采集橢偏數據和電化學數據。耦合流池，由聚醚醚酮(PEEK)制成，包括兩個石英窗口，允許橢圓光束垂直經過并到達工作電極表面再反射垂直經過出去，其中橢偏光束的入 ...

度是5°，即入射角度的變化是以5°為單位進行調節的，其調節范圍在0-90°。如圖2-1所示，為了保證垂直入射出射，樣品臺的高度可以進行調節，此外整個樣品臺面還可以在豎直方向上進行。當進行樣品測試時，第1步就是進出準直的調節，即使樣品測試面在水平，當入射光垂直入射時可以垂直反射。圖2-1橢偏儀實物圖2.2.2在位監控1、Pb溶液體系在進行不同濃度溶液：5/10/15/20mMPb(CH3COO)2和1MCH3COONa混合溶液的實驗，Pb薄膜的沉積實驗用的是10mMPb(CH3COO)2和1MCH3COONa混合溶液。該混合溶液透明，但是由于CH3COO-的存在，溶液體系不穩定性，每次實驗時都需 ...