列（八）位置色差的計算任何光學介質，對透明波段中不同波長的單色光具有不同的折射率,波長短者折射率大。 光學系統多半用白光成像，白光入射于任何形狀的介質分界面時，只要入射角不為零,各種色光將因色散而有不同的傳播途徑,結果導致各種色光有不同的成像位置和不同的成像倍率。這種成像的色差異稱為色差。通常用兩種按接收器的性質而選定的單色光來描達色差。對于目視光學系統，都選為藍色的 F光和紅色的C光。色差有兩種。其中描述這兩種色光對軸上物點成像位置差異的色差稱為位置色差或軸向色差,因不同色光成像倍率的不同而造成物體的像大小差異的色差稱為倍率色差或垂軸色差。如下圖,軸上點A發出一束近軸白光,經光學系統后，其中 ...

（九）-倍率色差的計算任何光學介質，對透明波段中不同波長的單色光具有不同的折射率,波長短者折射率大。 光學系統多半用白光成像，白光入射于任何形狀的介質分界面時，只要入射角不為零,各種色光將因色散而有不同的傳播途徑,結果導致各種色光有不同的成像位置和不同的成像倍率。這種成像的色差異稱為色差。通常用兩種按接收器的性質而選定的單色光來描達色差。對于目視光學系統，都選為藍色的 F光和紅色的C光。色差有兩種。其中描述這兩種色光對軸上物點成像位置差異的色差稱為位置色差或軸向色差,因不同色光成像倍率的不同而造成物體的像大小差異的色差稱為倍率色差或垂軸色差。校正了位置色差的光學系統，只能使二種色光的像點或像面 ...

波像差系列（六）-色差的波像差顯示單色球面波經光學系統后，將由于像差而發生變形。如果物方球面波是復色的，那么，各色波面經系統后，將因各自像差的不同而有不同程度的變形。二種色光，如F光和C光的波面間的偏離量,可用來表征色差,稱之為波色差。這種用波像差概念來討論色差的方法，由 A.E. Conrady 在其著作《應用光學和光學設計》一書中首先提出，即（D-d)方法。在(D-d)方法中,d表示光學系統中各光學零件沿光軸的厚度,D表示光線在相應零件中的光路長度。所以，就是軸上點發出的某一光線與沿軸光線之間的光程差或波像差。按此，同一孔徑的F光和C光各自的光程差應是和,二者之差即為波色差，以表示，有式中 ...

統包括兩個消色差透鏡，一個向列型液晶空間光調制器（LCOS）SLM（Meadowlark，XY系列，512x512像素，像素大小=15微米，設計波長=532納米）和一個偏振分光器，用于過濾未被SLM調制的X偏振光。第1個消色差透鏡在SLM上轉發光束。第二個中繼鏡頭確保在EMCCD上對熒光物體進行奈奎斯特采樣。顯微鏡配備了一套波長為405nm、488nm、561nm和642nm的合束激光器。這個配置增加了一個用于校準SLM的第二個光路。這個空降光調制器校準光路是為測量入射到SLM上的X和Y偏振光之間的延遲差而設計的，為了測量某個SLM像素的調制，需要將SLM映射到校準路徑的相機上。這種映射是通過 ...

測量。? 消色差，對應所有波段消色差。? 納米級別測量精度。易用的? 緊湊的。? 易于準直的。? 能快速獲取分析結果。三、Kaleo Kit適宜多種應用場合 望遠鏡準直與表征 凹?鏡測量大直徑平面光學特性測量：濾光片、窗口、偏振光學 任意配置的?直徑鏡頭和物鏡測量離軸鏡頭測量Phasics是一家專門從事相位測量的法國公司。Phasics向其客戶提供全系列的產品，所有這些都是基于獨特的技術，即四波側向剪切干涉技術。Phasics波前傳感器體積小、結構緊湊，分辨率高、動態范圍大，并且易于使用。非常適合集成在用戶的光路中用于光學元件及組件的計量。另一方面，Phasics也提供定制化的量測系統。可以根 ...

，這是一種消色差的技術，因此白光和LED光源非常適合。此外，可以使用任何顯微鏡進行測量，并且不依賴于偏振。如上圖光路所示，SID4相機位于被測物體的成像面進行探測，使用簡單。SID4相位成像相機可以集成在商業反射顯微鏡或專用光學系統上。SID 和 AFM 測量比較圖中紅線部分是Phasics測量結果，黑線位AFM測量結果。使用AFM測量表面缺陷，和使用SID4相位成像相機一次測量成型的結果對比。SID4 與 光學輪廓測量儀 對比使用SID4 HR定量測量，以及白光光學輪廓儀測量結果的對比。兩個報告中，第一個側重于輪廓，第二個側重于深度測量。測量結果Phasics是一家專門從事相位測量的法國公司 ...

生球差和位置色差。一般對三種色光分別作近軸光線、0.707 帶光線和邊緣光線的追跡后,就可算出像差值和畫出如下圖所示的三 色球差曲線。據此可全面判斷軸上點像差的校正狀況。垂軸平面上近軸軸外點或大孔徑小視場系統的軸外點,只要根據軸上點光線的追跡結果，就能通過計算正弦差值來判知其 像質。遠離光軸的點會產生所有像差,因此需對軸外點進行全部像差的計算。這種計算至少應對邊緣視場和 0.707視場點進行，每點的孔徑取值與軸上點相同。對于絕大多數能以二級像差表征高級像差的光學系統，以上計算已足夠。對于那些不能忽略高級像差的系統，計算的光線數應該有所增加。 一般計算六個視場點，取值為 Kw = -1，-0.8 ...

統包括兩個消色差透鏡，一個向列型液晶空間光調制器（LCOS）SLM（Meadowlark，XY系列，512x512像素，像素大小=15微米，設計波長=532納米）和一個偏振分光器，用于過濾未被SLM調制的X偏振光。第一個消色差透鏡在SLM上轉發光束。第二個中繼鏡頭確保在EMCCD上對熒光物體進行奈奎斯特采樣。顯微鏡配備了一套波長為405nm、488nm、561nm和642nm的合束激光器。這個配置增加了一個用于校準SLM的第二個光路。這個空降光調制器校準光路是為測量入射到SLM上的X和Y偏振光之間的延遲差而設計的，為了測量某個SLM像素的調制，需要將SLM映射到校準路徑的相機上。這種映射是通過 ...

大變化而保持色差不變,可對某個透鏡或透鏡組作整體彎曲。這種做法對除色差和匹茲凡和以外的所有像差均有效。六、利用折射球面的反常區。在一個光學系統中，負的發散面或負透鏡常是為校正正透鏡的像差而設置的,它們只能是少數。因此,讓正的會聚面處于反常區,使其在對光束起會聚作用的同時，產生與發散面同號的像差就顯得特別有利。設計者應善于利用這一性質。七、利用透鏡或透鏡組處于特殊位置時的像差性質。例如處于光闌位置或與光闌位置接近的透鏡或透鏡組，主要用于改變球差和彗差（用整體彎曲方法）；遠離光闌位置的透鏡或透鏡組，主要用來改變像散、畸變和倍率色差。在像面或像面附近的場鏡可以用來校正像面彎曲。八、對于對稱型結構的光 ...

，它是一種消色差干涉技術，與傳統寬視場顯微鏡的白光照明路徑兼容。我們考慮將 QWLSI 與傳統的白光透射顯微鏡結合使用。盡管 Primot 等人已經對使用改進的 Hartmann 掩模 (MHM) 的 QWLSI 的特性進行了嚴格研究。Phasics公司提出了波動光學和幾何光學之間的簡單聯系，以解釋光源的空間相干性對相位測量的影響。在對基于 QWLSI 的 WFS 進行理論分析后，展示了它對相位顯微鏡的興趣，并通過測量校準的測試樣本來量化其準確性。然后將該技術應用于活細胞成像。更多詳情請聯系昊量光電/歡迎直接聯系昊量光電關于昊量光電：上海昊量光電設備有限公司是光電產品專業代理商，產品包括各類激 ...