解釋
中文：子孔徑拼接檢測；英文：sub-aperture stitch-ing testing的原理；中文：子孔徑拼接檢測；英文：sub-aperture stitch-ing testing的定義；中文：子孔徑拼接檢測；英文：sub-aperture stitch-ing testing是什么。
依據(jù)被檢面的面形參數(shù)及干涉儀的技術(shù)參數(shù)將被檢面劃分為若干個(gè)子區(qū)域，對各子區(qū)域單獨(dú)檢測，再將檢測結(jié)果拼接、合并，從而獲得整個(gè)被檢面面形信息的檢測方法。一般可分為圓形子孔徑拼接和環(huán)形子孔徑拼接。
