ehnder干涉儀、Sagnac濾波器和光纖布拉格光柵相比，DMD具有高速調諧和不同波長之間靈活切換的優勢。您可以通過我們的官方網站了解更多的產品信息，或直接來電咨詢4006-888-532。 ...

通過分光鏡或干涉儀進行合并，并通過光探測器測量合并后的光強。合成后的電場，類似于混頻過程，會產生一個與兩束激光頻率差相等的拍頻。雙速光合并后的功率可以描述為：PPD和EPD表述在光探測器段的功率與電場。E1與E2表述兩束激光各自的電場。其中，ω1與ω2表述兩束激光的頻率,Φ1與Φ2表述兩束激光的相位. 將等式(2)與等式(3)代如等式(1)，得到：其中，高頻項（higher order terms）通常遠超出光電探測器與測量儀器的帶寬。雖然拍頻信號本身包含了兩束激光相位差信息，然而這個信息本身難以直接用于閉環系統的反饋信號。通常，一個單獨的相位檢測器會被用來獲取相位差的信息，將拍頻的交流信號轉 ...

膜厚測量儀及其在汽車前后燈中的應用在汽車前/后燈制造過程中，有幾個點的涂層厚度是至關重要的，需要對其進行質量控制，例如外硬質涂層（耐刮層），內部聚碳酸酯透鏡抗霧層，底座反射板上的硬涂層，保險杠蓋上的硬涂層等許多其他部件。每一種涂層都提出了一系列獨特的測量挑戰，例如聚碳酸酯和涂層材料之間較低的光學對比度、相互滲透/界面層、彩色零件（如紅色）、零件表面的反射紋理等等。美國Semiconsoft公司MProbe VisHC膜厚測量系統提供了堅固和易于使用的解決方案，允許直接測量產品上的涂層厚度。手動探頭MP-FLVis與一根柔性光纖電纜連接到系統上。符合樣品曲率的探頭可以很方便且很準確地進行測量。M ...

器和馬赫澤德干涉儀或者調制器相互組合，光束經過干涉儀被分成兩路，其中一路中放置了撲克爾效應。當兩路光束再次匯聚后相互相長或者相消，以此達到光強調制的效果。電光吸收調制電光吸收的方法時建立于Fraz-Keldysh和Stark效應，由于施加外部電場導致光的吸收，而且隨著外部電壓的改變，吸收率發生變化。吸收體對于入射光透明的，但是當外部施加電壓，能帶間隙變小，當光的能量超過能打間隙時吸收光子，衰減光的傳輸效率。當外加電壓被調制后，材料的吸收率和輸出光強也會被調制。因為大部分能量被轉化為熱量，因此為了確保精確的調制，需要解決熱血的問題。EAM相對于EOM有更低的調制電壓，因此更容易集成到激光芯片中。 ...

切專利技術的干涉儀，一套自適應控制軟件，以及對任何主動設備的控制。主動設備主要指代任意尺寸的變形鏡或者SLM，可以應用于所有種類的顯微技術，例如寬視場、熒光或者非線性顯微鏡等等。用于顯微鏡的高效率激光在多光子、共聚焦甚至超分辨顯微鏡中，熒光效率主要取決于激發光的質量。Phasics AO方案能夠優化激發光場，讓所有光都聚焦在感興趣的區域。Phasics的傳感器分辨率相對比較高，測量的像差特征也更加完整，因此在自適應光學中有更好的效果。改善光鑷和光活化SLM設備可以產生特定形狀的光斑，用于控制細胞和分子。為了能夠在產生最大的力量，光束應該全部聚焦在目標上。Phascis AO方案通過改善像差，能 ...

長計采用斐索干涉儀的方法檢測激光器的波長，典型的斐索激光波長計的關鍵部件是一個上下反射面之間有一定角度的楔形干涉腔，并隨著光程長度的變化，隨之產生空間變化的干涉條紋。由此產生的干涉圖樣的條紋間距和相位都與入射光的波長有關，因此分析它們的結構可以精確地確定激光波長。圖1 斐索波長計原理示意圖波長的粗略估計可以直接從條紋間距得到，其絕對精度為百分之一。可以通過條紋圖樣的相位來進一步改進這一初步估計。在不犧牲絕對精度的前提下，采用不同自由光譜范圍(FSRs)的多個標準具來細化波長的測量。MOGLabs FZW系列波長計使用了四個這樣的標準具，使得zui終的FSR達到7.5 GHz，測定波長的絕對精度 ...

產品使用激光干涉儀進行校準，非線性誤差補償低至全行程的 0.02%。Orthogonality error : The angular off?set of two defined motion axes from being orthogonal to each other. It can be interpreted as a part of crosstalk.正交性誤差：兩個定義的運動軸相互正交的角度偏移。 它可以解釋為串擾的一部分。Position noise : The amplitude of the stage shaking when it is on a static co ...

微透鏡陣列焦距檢測方法1，千分尺測量法西安工業大學通過透鏡焦距和透鏡鏡面半徑的理論關系，利用顯微鏡測量微透鏡陣列子單元的直徑并用千分尺測量矢高，從而完成焦距的測量，圖 1-1所示。圖1-1 平凸透鏡焦距示意圖對于一般的平凸型微透鏡陣列，利用顯微鏡和千分尺分別測量子單元直徑 Ф和矢高 h，計算其焦距為： （1-1）早期的微透鏡陣列制造常采用熔融光刻膠法制作，形成的是平凸面形的透鏡，利用該方法能完成相應的焦距測量。由于平凸透鏡焦距受凸面曲率半徑限制，使得該類型微透鏡陣列的應用受到較大的局限。另外，該檢測方法采用千分表接觸是測量微透鏡陣列的矢高，易造成微透鏡表面的 ...

的馬赫-曾德干涉儀 (MZI) 網格(mesh)可以實現任意矩陣乘法而不會產生基本損耗(fundamental loss)，這些架構也很容易配置和控制。具體來說，zui近的硅光子神經形態電路已經證明了使用相干光對矩陣向量乘法的奇異值矩陣分解實現。在這種情況下，在硅芯片上制造的MZI實現了逐元素乘法。這種設計代表了使用光的神經網絡z關鍵構建模塊之一的真正并行實現，現代代工廠(foundry)可以輕松地批量制造這種類型的光子系統。這種設計的挑戰之一是 MZI 的數量隨著向量中元素數量N以N2增長，這是實現任意矩陣的必要結果。隨著光子電路尺寸的增加，損耗、噪聲和缺陷也成為更大的問題。因此，構建足夠準 ...

脈沖傳播通過干涉儀來實現的，其中一個臂具有可變長度，因此能夠提供可調節的時間延遲 (τ)。平衡自相關器每個臂的的材料和涂層都一樣，使每個脈沖經歷相同量的色散。此外，可以執行干涉自相關，以便使用物鏡的全孔徑（在物鏡的整個NA下進行測量），從而給出了成像條件下性能的準確表征。要將光束與有意義的脈沖寬度信息進行自相關，必須在物鏡焦點處放置一種材料，該材料能夠產生非線性、強度相關的信號。這種與強度相關的相互作用充當超快門控功能，允許使用具有顯著低于光脈沖帶寬或頻率響應的檢測器對脈沖進行時間相關測量。獲得自相關的一種典型且簡單的方法是測量含有熒光染料的樣品的TPEF。更容易的是使用 GaAsP 光電二極 ...