解釋
中文：受激發(fā)射損耗顯微成像；英文：stimulated emission depletion microscopic ima-ging / STED microscopic imaging的原理；中文：受激發(fā)射損耗顯微成像；英文：stimulated emission depletion microscopic ima-ging / STED microscopic imaging的定義；中文：受激發(fā)射損耗顯微成像；英文：stimulated emission depletion microscopic ima-ging / STED microscopic imaging是什么。
一種基于掃描成像的遠場超分辨顯微成像技術(shù)。通過疊加兩束強度分布不同的光場，即激發(fā)光和損耗光，在焦點處形成特殊光強分布，結(jié)合特殊樣品的激發(fā)特性可以選擇性消除激發(fā)光焦點外圍區(qū)域激發(fā)態(tài)分子的熒光發(fā)射能力，減小艾里斑的有效尺寸，實現(xiàn)超分辨成像。
