差反映了更高空間頻率的缺陷（見圖2中間的左側(cè)相位圖）。圖3：左側(cè)為在設(shè)計波長544nm下測量的PB超透鏡，右側(cè)為在633nm下測量的相同超透鏡。在減去波前曲率后，顯示出在設(shè)計波長下測量的殘余誤差較低。在圖3中，我們對同一個PB超透鏡在兩種不同的波長下進行了測量：544nm（其設(shè)計波長）和633nm。Phasics技術(shù)具有自消色差的特性，可以在傳感器模型的靈敏度范圍內(nèi)對任意波長進行測量。測量結(jié)果顯示，當超透鏡在其設(shè)計的波長下使用時，產(chǎn)生的高空間頻率波前誤差較少。圖4：PB金屬透鏡的測量。左側(cè)為強度圖像和總波前圖，右側(cè)通過濾波波前曲率（或澤尼克離焦項）揭示了其他光學(xué)像差。底部的柱狀圖顯示了主要的低 ...
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