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成像型穆勒矩陣測量系統
經完成，表明穆勒矩陣的J性分解決定了器件的J化特性。校準過程將液晶 SLM 的相位響應確定為某個控制參數的函數，例如，施加到設備每個像素的電壓信號。 輸出相位值和輸入信號之間的關系，例如顯示圖像中包含的 256 個灰度級，就是所謂的校準曲線/函數。 在光學系統中執行 SLM 的之前，校準過程是一項強制性任務。 現在，已經報道了幾種校準方法。 一般來說，它們可以分為兩大類。 其中之一是干涉方法，而另一方面，我們可以找到基于衍射的方法。 然而，還有一組校準方法不能包含在上述組中，但不那么普遍。第①組包括但不限于楊氏條紋衍生相位表征方法等方法。在這種情況下，干涉圖案是通過在 SLM 平面上使用具有兩 ...
度)的樣品的穆勒矩陣為:利用穆勒微積分，我們推導出探測器處的信號為:公式1當用貝塞爾函數表示PEM的時變延遲?t = Acos(2πft)時，我們將探測器信號重寫為:公式2其中A = PEM峰值延遲弧度，f = PEM頻率，和是PEM峰值延遲A。方括號中的前兩項是“直流”項，第三項是“交流”項，在2f處，是PEM頻率的兩倍。或DC項由下方程給出：公式3，交流信號在2f處的幅值(不是均方根值)由下方程給出：公式4對于較佳設置，PEM延遲被選擇為A = 0.383波= 2.405弧度。對于這種延遲，，直流項與光學旋轉無關。在實驗上，信號調節器從檢測器輸出中分離出交流信號和直流信號。鎖相放大器測量的 ...
實驗室使用了穆勒矩陣激光旋光計，Hinds使用了exicor系統。介紹了測量技術，并給出了測量結果。簡介及背景石英和藍寶石是單軸晶體，當晶體定向時，使光束經歷非凡和普通的指數，就可以很容易地觀察到這些材料的雙折射。如果晶體的光軸與光學系統的軸對齊，則不會觀察到本征雙折射。然而，如果這兩個軸沒有對齊，一個起源于這兩個軸之間的角度的雙折射將被觀察到。得到了石英和藍寶石的平板，經過切割和拋光，使晶體光軸從平板的法線向表面傾斜。由x射線衍射測量建立的傾斜角度很小，從表1可以明顯看出。表1石英和藍寶石樣品軸傾斜和雙折射通常入射到板上的光所經歷的雙折射為其中（ne-n0）為本征雙折射，θ為傾斜角。表1顯示 ...
之間的關系由穆勒矩陣和斯托克斯矢出：上式，S，表示出射光束，S表示入射光束，經過這么一個矩陣推導運算，zui終就可以得到出射光S，,然后分析其光強，就可以知道與雙折射有關的延遲信息。（2）塞納蒙法雙折射測量包括樣品應力分布測量，可以通過跟蹤樣品偏振態來測量，也可以通過樣品入射光束的偏振態來測量，或者預先設定偏振態來測量。它還可測樣品與入射光方向的對準或者測量延遲量和方位角。塞納蒙(Senarmont)法是一種傳統的應力分布測量方法。其優點是經濟，容易調準，即使使用低質量的波片也有很高的精度。下面是其光路圖：2.2塞納蒙法測量偏振器件之間的關系由穆勒矩陣和斯托克斯矢量給出，類似上面。zui終分析 ...
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