項測量結(jié)果。反射光譜中干涉條紋的幅度約為0.1%，并且非常清晰：薄膜疊層模型與測量數(shù)據(jù)相符，并且可以準確確定厚度/n&k。圖1 低光學對比度測量–基材上的涂層，折射率差異<0.1反射條紋p-p幅度~0.1%。模型根據(jù)數(shù)據(jù)進行擬合，厚度/n&k被準確確定。為了進行比較，許多流行的可見光譜儀中使用的SonyILX和Toshiba1304探測器的DNR約為1000。使用這些探測器之一進行圖1中的測量會更加困難。另一方面，像S10420這樣的高質(zhì)量CCD探測器的DNR約為40K至50K，并且可以準確測量0.01%的反射率。實際上，需要對固定模式噪聲進行非常精確的校準才能測量低信號 ...

線性和偏移，反射光譜受到限制且失真。Ariel光譜儀具有暗信號/偏移自動校正功能，無需額外步驟即可提供正確的光譜測量。波長分辨率根據(jù)所需的厚度范圍選擇波長分辨率。高分辨率允許在較厚的薄膜上進行測量，但需要更窄的波長范圍。但較窄的波長范圍限制了可測量的min厚度。為了max定波長范圍的波長分辨率，需要min化像差并優(yōu)化狹縫寬度。Vis系統(tǒng)的波長范圍為~400-1000nm（600nm范圍），UVVis為200-1000nm（800nm范圍）。對于2048像素的探測器，我們的像素分辨率約為0.3-0.4nm。RMS斑點（畸變）為~10um。這意味著使用20um的唾液，我們可以實現(xiàn)<1nm的分 ...

上透明聚酯的反射光譜（可見光范圍）鋼上白色聚酯的反射光譜（近紅外范圍）眾所周知，聚酯薄膜的厚度很難使用光學非破壞性方法進行測量。主要原因是涂層的質(zhì)地和微觀不均勻性。如果是不透明的高散射涂層，NIR范圍（MProbeNIR-MSP波長900-1700nm）需要與小光斑一起使用。MProbeMSP系統(tǒng)允許在小點進行本地化測量。對測量數(shù)據(jù)進行高ji數(shù)據(jù)分析可減少由于紋理造成的測量偽影的影響，并允許提取厚度數(shù)據(jù)。為什么要使用MProbeMSP系統(tǒng)？由于聚酯涂層的不均勻/紋理，需要使用小點（~40至20μm）來定位測量。如果是高散射涂層–需要使用NIR波長范圍MPROBEVIS-MSP：鋼板上透明聚酯涂 ...

捕獲目標表面反射光譜的高光譜圖像(即超立方體)。分析這些超立方體的光譜特征，以表明感興趣的化學物質(zhì)的存在。該技術(shù)的一個非常重要的應(yīng)用是痕量爆炸物的探測。圖1MIR HSI方法涉及使用外腔量子級聯(lián)(ec - qcl)進行激光照明。圖1顯示了測量裝置的照片，其中樣品在近距離(8厘米的距離)測量，以實現(xiàn)70 um的高空間分辨率。使用兩個Block的Mini-QCLTM ec - qcl在波長范圍為7.7 - 11.8 um的范圍內(nèi)捕獲了一個256波長的復(fù)合超立方體。激光束在目標上進行光柵掃描以捕獲(8.8 mm)2的圖像區(qū)域。黑色鍵盤按鍵上的PETN樣品由海軍研究實驗室提供。利用干轉(zhuǎn)移技術(shù)，PETN ...

區(qū)和污染區(qū)的反射光譜清晰地顯示了硅酮在1025、1075和1260 cm-1處的吸收峰。對于較大表面的測量，該系統(tǒng)具有集成的基于振鏡的兩軸掃描鏡系統(tǒng)(掃描儀)，以光柵掃描整個表面的激光照明。圖4以圖形方式描述了這一點。柵格掃描也允許人們選擇更小的光束尺寸(從而更高的平均影響)，代價是更長的總捕獲時間。使用干轉(zhuǎn)移技術(shù)將固體粉末的痕跡應(yīng)用于各種室外表面。表面包括石頭屋面瓦、混凝土、瀝青和沙子。圖5顯示了100 ug咖啡因在屋面瓦上的測量結(jié)果，測量距離為0.4 m。對于這些測量，使用了兩個ec - qcl來獲取跨越850 - 1300 cm-1波數(shù)范圍的超立方體。用底物的反射率對測得的反射率進行歸一 ...

11 測量的反射光譜(放大部分如圖所示)。反射率約0.3%的振蕩/條紋表明存在PR。由于散射，振幅很小。圖12 印制板上PR的測量。峰表示PR的厚度(45.54um)，盡管光譜中的特征很弱，但峰十分清晰。了解更多詳情，請訪問上海昊量光電的官方網(wǎng)頁：http://www.arouy.cn/three-level-56.html更多詳情請聯(lián)系昊量光電/歡迎直接聯(lián)系昊量光電關(guān)于昊量光電：上海昊量光電設(shè)備有限公司是光電產(chǎn)品專業(yè)代理商，產(chǎn)品包括各類激光器、光電調(diào)制器、光學測量設(shè)備、光學元件等，涉及應(yīng)用涵蓋了材料加工、光通訊、生物醫(yī)療、科學研究、國防、量子光學、生物顯微、物聯(lián)傳感、激光制造等 ...

在拼接鋁上的反射光譜。圖3 采用厚膜算法測量(12.7 μm)的結(jié)果-假設(shè)對二甲苯X折射率由于我們不知道我們使用的折射率是否正確，我們需要驗證模型與測量數(shù)據(jù)的擬合。這將使我們能夠更準確地確定折射率和厚度。為了測量涂層，我們首先需要測量未涂層的鋁，以確定聚對二甲苯涂層下的膜堆。測量結(jié)果如圖4所示。我們從這個測量中得到了幾個信息:a).有一層氧化鋁層(≈72 nm)b).表面粗糙度為≈30 nmc).該鋁樣品的反射率為標準拋光鋁的約40%。所有這些信息都包含在模型中，以達到良好的擬合，并將用于我們的zui終模型的聚二甲苯堆棧。圖4 該模型與未涂覆鋁的測量結(jié)果吻合良好為了檢查我們使用厚膜算法對聚對二 ...

蓋:實測原始反射光譜圖1b 保險杠蓋:測量結(jié)果。確定底漆和硬涂層的厚度二、硬涂層:大燈罩圖2a 帶硬涂層的透明大燈:原始反射光譜測量。圖2b 硬膜透明前照燈測量結(jié)果。硬涂層厚度- 9.86um;底漆厚度- 1.06um(第1個峰對應(yīng)硬漆層;第二個峰對應(yīng)于硬漆+底漆的總厚度)三、硬漆:尾燈(紅色)罩圖3a 硬涂層尾燈(紋理表面):反射光譜測量圖3b硬膜紅色大燈的測量結(jié)果。硬漆厚度- 8.7um，底漆厚度- 1.4um四、防霧涂層測量防霧涂層直接沉積在表面，不需要底漆，而不是硬涂層。結(jié)果顯示出一個非常薄的界面層。測量這一層以確認涂層的良好附著力通常是很重要的。圖4 模型與實測數(shù)據(jù)的擬合:防霧涂層3 ...

不同點測得的反射光譜圖2 測量結(jié)果的實例厚度是通過將硅化層模型擬合到測量數(shù)據(jù)來確定的圖3 測量結(jié)果示例(薄層)。厚度是通過將硅化層模型擬合到測量數(shù)據(jù)來確定的圖4 測量結(jié)果示例(厚層)。厚度是通過將硅化層模型擬合到測量數(shù)據(jù)來確定的圖5 測量了沿注射器筒的硅層厚度分布圖6 測量硅化層厚度分布-測量旋轉(zhuǎn)注射器圖7 測量未涂覆(上二)和涂覆/硅化(下三)3ml注射器桶的反射光譜。涂層為~150nm圖8 注射器筒上硅化層厚度測量結(jié)果。模型與實測數(shù)據(jù)的擬合硅化瓶與注射器類似，玻璃小瓶內(nèi)部是硅化的，以防止藥物與玻璃中的摻雜劑/污染物發(fā)生反應(yīng)。這種涂層的厚度通常比注射器薄。圖9 標有測量點的小瓶表1 測量結(jié)果 ...

球囊壁的原始反射光譜由上圖3可見光譜中的干涉條紋表明在兩種情況下信號都良好。了解更多詳情，請訪問上海昊量光電的官方網(wǎng)頁：http://www.arouy.cn/three-level-56.html 更多詳情請聯(lián)系昊量光電/歡迎直接聯(lián)系昊量光電關(guān)于昊量光電：上海昊量光電設(shè)備有限公司是光電產(chǎn)品專業(yè)代理商，產(chǎn)品包括各類激光器、光電調(diào)制器、光學測量設(shè)備、光學元件等，涉及應(yīng)用涵蓋了材料加工、光通訊、生物醫(yī)療、科學研究、國防、量子光學、生物顯微、物聯(lián)傳感、激光制造等；可為客戶提供完整的設(shè)備安裝，培訓(xùn)，硬件開發(fā)，軟件開發(fā)，系統(tǒng)集成等服務(wù)。您可以通過我們昊量光電的官方網(wǎng)站www.auniont ...