簡介——白光干涉法硅基液晶芯片即LCOS是一種空間光調制器。它利用液晶的電控雙折射現象，在驅動電壓下折射率連續變化，實現對入射光的相位調制。但由于液晶的一些特性，驅動電壓改變量和相位改變量是非線性關系，實際使用中需要測量并確定相位調制特性曲線。現介紹一種相位分析方法——白光干涉法，來確定LCOS芯片的相位調制特性曲線。白光干涉法采用邁克爾孫干涉儀的結構，在參考鏡前設置補償玻璃板（同LCOS芯片前的玻璃板），消除對光路的影響，從而使參考光和反射光達成白光干涉條件。分析干涉圖可得到LCOS芯片的相位輪廓，進而分析相位調制的特性曲線。上圖為白光干涉法的裝置示意圖。白光由確定中心波長的鹵鎢燈發射，經毛 ...

比成像、微分干涉對比成像和擴展景深成像。美國Meadowlark Optics 公司專注于模擬尋址純相位空間光調制器的設 計、開發和制造，有40多年的歷史，該公司空間光調制器產品廣泛應用于自適應光學，散射或渾濁介質中的成像，雙光子/三光子顯微成像，光遺傳學，全息光鑷(HOT)，脈沖整形，光學加密，量子計算，光通信，湍流模擬等領域。其高分辨率、高刷新率、高填充因子的特點適用于PSF工程應用中。圖1. Meadowlark 2022年新推出 1024 x 1024 1K刷新率SLM二、空間光調制器在PSF工程中的技術介紹在單分子定位顯微鏡（SMLM）中，通過從相機視場中稀疏分布的發射點來估計單個分 ...

纖衰減測量、干涉測量儀、光相十攝影術、光譜學分析、生物成像、光學頻率梳等領域。關于Iceblink超連續激光器Iceblink是一款覆蓋450- 2300nm光譜范圍的超連續光纖激光器，具有超過1W的平均功率和較佳的穩定性(0.5%標準偏差)。它是一種用途廣泛的白光光源，在科學和工業領域有著廣泛的應用，典型應用包括材料表征、VIS、NIR和IR光譜、單分子光譜和熒光激發的吸收/透射測量。 Iceblink的空間相干性和寬光譜范圍使其成為傳統燈源、單波長激光器、LED和ASE光源的不錯替代品。圖3：Iceblink超連續激光器實物圖規格指標：圖4：Iceblink超連續激光器典型光譜您可以通過我 ...

析儀可以表征干涉儀等儀器的復頻譜響應，快速繪制出系統的傳遞函數。同時，內置的 FIR濾波器可以產生較為精確的信號延遲。Moku:Lab功能與參數主要參數?雙通道200 MHz模擬輸入?雙通道300 MHz模擬輸出?12-bit 500 MSa/s 低噪聲ADC?Xilinx Zynq 7000 Series FPGA?<20 nV/√Hz 輸入噪聲(高于 1 MHz時)主要功能?集成了12個不同的測試測量儀器?專門為Pound–Drever–Hall和其他常見的激光鎖頻方式所開發的儀器功能?雙通道基于鎖相環的相位/頻率探測裝置?Python, MATLAB, 和LabVIEW的API支持 ...

四波側向剪切干涉技術。Phasics波前傳感器體積小、結構緊湊，分辨率高、動態范圍大，并且易于使用。非常適合集成在用戶的光路中用于光學元件及組件的計量。另一方面，Phasics也提供定制化的量測系統。可以根據用戶的實際需求設計方案。上海昊量光電設備有限公司作為Phasics在中國地區的核心代理商，致力于為國內的工業和科研用戶提供技術解決方案。對于Phasics相位相機有興趣或者任何問題，都歡迎通過電話、電子郵件或者微信與我們聯系。如果您對SID4系列波前傳感器產品有興趣，請訪問上海昊量光電的官方網頁：http://www.arouy.cn/details-1631.html歡迎繼 ...

STED)干涉散射顯微鏡 Interferometric scattering microscopy (iSCAT)寬場顯微鏡 Widefield microscopy五、VAHEAT客戶反饋：相關文獻：http://www.arouy.cn/jishu-630.htmlhttp://www.arouy.cn/jishu-462.html關于德國Interherence公司：德國Interherence公司擁有量子和生物光子學領域的專家團隊，為高靈敏度光學顯微鏡的發展做出了很大貢獻。該團隊采用了現代納米制造和薄膜技術，推出了VAHEAT生物顯微溫度控制器，作為傳統 ...

常低于用傳統干涉儀測量的水平。作為MEMS鏡面的基材，硅具有較優的潔凈度、平整度。在光束轉向應用的Z后制造步驟中，硅鏡面必須涂覆以獲得所需波長的高反射率。在標準生產過程中，硅鏡上會涂上一層薄薄的鋁，所有庫存的MEMS鏡面都用的鋁涂層。一些研發生產過程中的設計被涂上了黃金。一般來說，可以使用其他涂層材料，但有必要找到薄的、低應力的涂層，而不會顯著降低鏡子的平整度特性。這是一個非常具有挑戰性的要求，因為MEMS反射鏡的厚度非常小，因此在每個新情況下都需要大量的研發工作。在使用鋁涂層的標準工藝中，在任何類型和尺寸的鏡子中都保持>5m的曲率半徑。圖2MEMS鏡面涂層：標準鋁涂層(左)，金涂層（右 ...

直接光譜相位干涉法電場重建(SPIDER)[22,23]依賴于記錄兩個延遲和頻率剪切脈沖副本之間的頻譜干擾模式。相較而言，這種方法不需要復雜的反演算法，但需要更復雜的光學設置。另一類表征技術不依賴于脈沖副本，而是在譜域中操縱脈沖。在多光子脈沖內干涉相位掃描(MIIPS)是一種頻譜相位整形器，用于在測量二次諧波頻譜時對脈沖施加受控相位函數[24]。群延遲色散(GDD)曲線可以通過確定哪個函數局部抵消原始頻譜相位從而使二次諧波產生z大化而得到(SHG)輸出，從而允許反演光譜相位，進而重建時間脈沖輪廓。除了MIIPS外，也報道了利用脈沖整形器的相關方法[25,26]。色散掃描，簡稱d-scan，利用 ...

定薄膜厚度的干涉信號的對比度降低。在高數值孔徑物鏡中，光線在膠片中以不同角度折射（見圖1），因此光線在膠片材料中的路徑長度不同。這意味著它們具有不同的相位差。一旦不同的光線組合在一起并且相位疊加在探測器上，相長干涉峰/谷和相消干涉峰/谷之間的對比度就會減弱。這種影響的嚴重程度取決于具體的膠片疊層和數值孔徑。但是，一般來說，效果隨著厚度的增加而增加。圖 1 大數值孔徑(NA) 的小光斑測量NA 如何影響厚度測量在硅氧化物測量示例中很容易看出效果。 200nm氧化物的UVVis反射光譜（200-1000nm）的模擬如圖2 所示。它顯示光譜隨著NA 的增加而逐漸退化。但變化很小并且很容易糾正。然而， ...

下拍攝的相應干涉圖。4 (b).在80k的z大ASE功率下，兩種器件的FWHM均為~47 cm?1的高斯形光譜。平滑的光譜表明發射器確實低于閾值。通過干涉圖確定了8 mm和12 mm器件的相干長度分別為~112μm和~127μm。在較高的溫度下，由于ASE光譜的展寬，預計相干長度會更小。在250 K時，8 mm和12 mm長的器件分別觀察到FWHM為63 cm?1和56 cm?1的高斯形光譜(圖4 (c))，從相應的干涉圖中提取的相干長度為~94μm和~107μm(圖4 (d))。相干長度也繪制為200k下12mm長的器件峰值功率的函數，如圖5所示，其中“X”表示激光閾值。相干長度隨著功率的增 ...