得對比度高的干涉條紋，與窄帶激光干涉相比，白光干涉可以定位零級條紋，消除2p相位的誤差，更精確判斷液晶的相位改變量。同時由于精度的提高，此種方法可以實現像素級相位觀測。相關文獻：《基于掃描白光干涉法的LCOS芯片像素級相位分析》作者：屈銘,鄭俊杰,李敏,桂聰,宋五洲關于昊量光電昊量光電 您的光電超市！上海昊量光電設備有限公司致力于引進國外先進性與創新性的光電技術與可靠產品！與來自美國、歐洲、日本等眾多知名光電產品制造商建立了緊密的合作關系。代理品牌均處于相關領域的發展前沿，產品包括各類激光器、光電調制器、光學測量設備、精密光學元件等，所涉足的領域涵蓋了材料加工、光通訊、生物醫療、科學研究、國防 ...

干涉。得到的干涉條紋的相對移動量即為液晶空間光調制器的相位調制量。馬赫-曾德干涉儀通過計算干涉圖的相對移動來得到液晶空間光調制器的相位調制情況。馬赫-曾德干涉基于干涉原理進行測量，但是由于裝置需要的參考光為嚴格的平面波，對實驗裝置的穩定性要求較高，此外該方法適用于測量透射式液晶空間光調制器。徑向剪切干涉方法徑向剪切干涉方法工作原理圖如圖3所示，該方法通過對液晶空間光調制器調制后的波面與本身錯位后放大和縮小的波面產生干涉條紋，通過迭代算法分析得到干涉條紋，以得到液晶空間光調制器的相位調制特性。圖3在剪切干涉光路中，將放大的波面作為參考光，避免了引入額外參考光所帶來的誤差，保持了系統的穩定性，具有 ...

振，從而形成干涉條紋。該技術在光譜分析、精密測量和光學傳感等領域得到廣泛應用。圖1 法布里-珀羅干涉儀原理圖圖2 干涉條紋從圖1中我們可以看到，面光源置于透鏡L1焦平面處，使得不同方向的光束平行射入干涉儀，在P1，P2相向的表面鍍有高反膜，因此光束可以在P1，P2平面鏡中作來回多次的反射，透射的平行光在通過透鏡L2匯聚在其焦平面上形成如圖2所示的同心原型的干涉條紋。法布里-珀羅干涉儀的原理為多光束干涉原理。圖3 多光束干涉原理示意圖由圖3我們可以看出，一束振幅為A0的光束以入射角θ0入射，經過多次反射與投射，透射出相互平行的光束。設高反膜的反射率為，因此可得第1束透射光的振幅為，后續依次為由等 ...

測量平面間的干涉條紋，能夠計算出條紋的位相分布。被測平面的表面輪廓可通過位相分布來確定。下圖為使用激光光源的斐索干涉儀基本的光學結構。激光束經物鏡、針孔、準直透鏡準直，參考光學平面與準直光束垂直，并采用光楔或減反射膜系來抑制它的背面反射。參考和測量面間的干涉條紋經電視攝像機來探測。分束器或λ/4波片以及偏振分束器用來引導光束入射于電視攝像機上。這種斐索干涉儀，需要采用長焦距的準直透鏡來獲得高的精度。干涉條紋函數I(x,y)：式中，I。為背景光強度；y(x,y)為條紋調制函數；φ(x,y)為被測條紋的位相分布函數；φ。為參考面與測量面間光程差引起的初位相.為了從干涉條紋函數中獲得位相分布函數φ( ...

進行干涉，對干涉條紋進行傅里葉變換，提取一激光的信息和零級光的信息，利用傅立葉變換進行相關的計算，計算出待測波前的相位分布，以及強度分布等。波前分析儀在半導體領域的應用：半導體行業的光刻系統依賴于ji其復雜的激光源和光學系統。Phasics公司SID4 系列波前傳感器涵蓋從紫外線（UV,190nm）到長波紅外（LWIR,14um）的范圍，已被證明在半導體行業中非常有價值，可用于鑒定此類光學系統的設計波長。越來越多的研發或制造工程師將SID4 波前傳感器用于激光源和光學系統的對準和計量。波前傳感器可在單次測量中獲得完整的激光特性。波前傳感器是支持光刻系統制造商和集成商校準、鑒定和監控其紫外光源和 ...

微秒級）捕獲干涉條紋圖，從而減少環境擾動和被測件不穩定帶來的影響。市場上的動態干涉儀主要有兩種瞬態采樣及分析方式：基于傾斜條紋載波法和偏振移相方式32。其中，偏振移相方式利用微偏振陣列對捕獲的干涉圖像進行空間編碼，實現單幀定量相位測量。動態干涉儀的應用非常廣泛，它可以用于空間探測、大型光電系統中的大口徑長焦光學元件與系統的原位面形測量。此外，它們也適用于精密光學加工領域，用于測量光學元件的面形和其他精密器件的參數。總的來說，動態干涉儀是一種強大的工具，它通過技術克服了傳統干涉儀在動態或不穩定環境下測量的限制，提供了一種快速、精確且可靠的測量解決方案。更多動態干涉儀詳情請訪問上海昊量光電的官方網 ...

射時，會產生干涉條紋，通過分析這些干涉條紋，可以測量出表面的微小不平整度。菲索干涉儀的構造通常包括以下幾個部分：1.光源：提供穩定的單色光或準單色光。2.準直系統：將光源發出的光變成平行光束。3.分束器：將光束分為參考光束和測試光束。4.標準平面或球面：作為參考表面，與被測表面形成干涉。5.被測光學元件：待測量的光學表面。6.成像系統：用于觀察和記錄干涉條紋。菲索干涉儀的應用非常廣泛，它可以用于檢測透明平行平板的光學厚度均勻性，也可以用于測量球面的面形和曲率半徑。此外，菲索干涉儀還可以檢測無限、有限共軛距鏡頭的波面像差。菲索干涉儀的測量精度通常可以達到光波長的十分之一到百分之一。在光學元件加工 ...

新結合，產生干涉條紋。這種干涉條紋可以用來測量光波的波長、物體的微小位移、厚度以及折射率等物理量。工作原理：當兩束光的頻率相同、振動方向相同且相位差恒定時，它們可以發生干涉。通過調節干涉臂的長度或改變介質的折射率，可以形成不同的干涉圖樣1113。干涉條紋實際上是等光程差的軌跡，因此，分析干涉產生的圖樣需要求出相干光的光程差位置分布的函數。邁克爾遜干涉儀的zhu名應用之一是邁克爾遜-莫雷實驗，該實驗證實了以太的不存在，為狹義相對論的基本假設提供了實驗依據。此外，邁克爾遜干涉儀還在引力波探測中得到廣泛應用，如激光干涉引力波天文臺（LIGO）等，通過測量由引力波引起的激光的光程變化來探測引力波。邁克 ...

2）。明顯的干涉條紋清晰可見圖4 測量結果（數據圖3）。峰值表示涂層厚度。它堅固而明顯，表現出出色的選擇性（沒有其他厚度）二、厚度不均勻性涂層厚度不均勻性（測量點內）導致反射光譜類似于多層薄膜疊層。如果厚度變化足夠大，則光相位（和干涉）將被擾亂，并且無法進行厚度測量。圖5顯示了覆蓋具有不同厚度T1、T2的兩個區域S1、S2的光斑尺寸示例。圖5 測量點內不同厚度的區域當區域S1、S2的反射率到達光電探測器時，反射率被組合并轉換為強度（反射率作為矢量/復數）。這個過程稱為卷積。光相位不會丟失——它會轉換為信號幅度。在數據分析過程中，信號被分解（使用FFT）并提取厚度。測量過程中的反射率變換如圖6所 ...

。反射光譜中干涉條紋的幅度約為0.1%，并且非常清晰：薄膜疊層模型與測量數據相符，并且可以準確確定厚度/n&k。圖1 低光學對比度測量–基材上的涂層，折射率差異<0.1反射條紋p-p幅度~0.1%。模型根據數據進行擬合，厚度/n&k被準確確定。為了進行比較，許多流行的可見光譜儀中使用的SonyILX和Toshiba1304探測器的DNR約為1000。使用這些探測器之一進行圖1中的測量會更加困難。另一方面，像S10420這樣的高質量CCD探測器的DNR約為40K至50K，并且可以準確測量0.01%的反射率。實際上，需要對固定模式噪聲進行非常精確的校準才能測量低信號電平的信號 ...