散。另外透射光學(xué)材料還應(yīng)有高度的光學(xué)均勻性，化學(xué)穩(wěn)定性和良好的物理性能，同時在材料中不應(yīng)有明顯的氣泡，條紋和內(nèi)應(yīng)力等缺陷。這些都對光學(xué)成像有缺陷。透射光學(xué)零件應(yīng)用的材料一般有光學(xué)玻璃，光學(xué)晶體以及光學(xué)塑料，其中又以光學(xué)玻璃使用最多。光學(xué)玻璃能透明的波段大約為0.35到2.5微米，在0.4微米以下時，已顯示出對光的強烈吸收。光學(xué)玻璃可以分為冕牌和火石兩大類，各大類又有好幾種類，一般而言，冕牌玻璃的特征是低折射率低色散，火石玻璃是高折射率高色散。隨著激光技術(shù)和光探測技術(shù)的不斷發(fā)展，各種激光光學(xué)系統(tǒng)和紅外光學(xué)系統(tǒng)以及其他應(yīng)用特定波長的光學(xué)系統(tǒng)越來越多，由于這些光學(xué)系統(tǒng)的應(yīng)用波段不一定式可見光波段，像 ...

的微結(jié)構(gòu)引入光學(xué)材料，徹底改變了材料的光學(xué)特性。它可看作是半導(dǎo)體物理學(xué)成果在光子領(lǐng)域中的拓展。實際上，半導(dǎo)體的能帶結(jié)構(gòu)是電子和晶格引起的周期性電動勢之間相互作用的結(jié)果。通過求解周期性電動勢的薛定諤方程，就能得到被禁帶所分離的電子能量狀態(tài)。類似地，如果把這種周期性變化的電動勢用周期性變化的介電常數(shù)，即折射率來替換，同時，把薛定諤替換成經(jīng)典的電磁波波動方程，就能獲得光子晶體中的光子帶隙。早在1987年，多倫多大學(xué)的Sajeev John和貝爾通信實驗室的Eli Yablono-vitch就預(yù)言了光子帶隙，光子帶隙成為20世紀(jì)90年代初期光子學(xué)領(lǐng)域的研究熱點。他們的研究設(shè)想是通過建立合適的波導(dǎo)結(jié)構(gòu)， ...

圖作為非線性光學(xué)材料，非線性系數(shù)是一項重要的光學(xué)參數(shù)，它決定了材料的相位匹配的波長。通過第一性原理計算可得雙折射的系數(shù)，并且結(jié)果表明三個化合物都是負(fù)的雙光軸晶體，在1064nm的激發(fā)光下Δn=nz-nx，其雙折射系數(shù)分別為：0.070, 0.090和0.060，此數(shù)據(jù)表明上述三個化合物的雙折射系數(shù)大于已經(jīng)報道的磷酸復(fù)鹽晶體。圖3(a)、(b)和(c)分別為化合物K2(TeO)P2O7、Rb2(TeO)P2O7和Cs2(TeO)P2O7的雙折射系數(shù)譜圖您可以通過我們的官方網(wǎng)站了解更多的產(chǎn)品信息，或直接來電咨詢4006-888-532。 ...

常見光學(xué)精密測量技術(shù)1.光斑分析和測量技術(shù)光斑測量與激光技術(shù)是緊密相關(guān)的，在激光器行業(yè)有著非常廣泛的運用，激光光斑測量是評價激光光束質(zhì)量的主要手段，是指導(dǎo)激光設(shè)計，制造和裝配的重要依據(jù)。評價激光光束質(zhì)量的指標(biāo)主要涉及這些方面：1.光束的發(fā)散角和傾斜度。發(fā)散角是用來衡量光束從束腰向外發(fā)散的速度，可以用來表征激光的準(zhǔn)直性能。光束傾斜度是表征光束偏離出光面垂軸方向的程度，圖1所示為表征激光光束的常見參數(shù)。2.光斑尺寸。測量光斑不同徑向的直徑大小，表征光斑尺寸，可以用于評估激光作用范圍，特別在激光加工領(lǐng)域有著廣泛的運用。圖2所示為激光光斑在空間傳播的光斑大小演變圖，可以計算激光光束的數(shù)值孔徑和Z小光斑 ...

四項技術(shù)是：光學(xué)材料（如玻璃和聚合物）、換能器（包括膠片和電子探測器，人眼除外）、光源（從蠟燭、弧光燈、白熾燈到LED和激光器）和處理技術(shù)（通過生物、電子或其它的處理技術(shù)）。今天所有的成像器材都是基于這四項技術(shù)制造而成的。在這一章節(jié)，我們根據(jù)當(dāng)時對技術(shù)的理解以及技術(shù)水平劃分了5個成像周期。在這一章節(jié)討論了4個周期，最后一個周期是計算成像，后續(xù)章節(jié)描述。每個周期的年代劃分是粗略劃分的，并不意味著固定不變。第一個周期是古代，在此時，盡管已經(jīng)有了玻璃，但是工匠們?nèi)鄙倮斫夂褪褂盟鼈兊闹R。玻璃僅僅被用作裝飾、窗戶、或像碟子和杯子這樣的東西。下一個周期從1600到1840年，是光學(xué)科學(xué)和工程的開端。多鏡 ...

a值以及某些光學(xué)材料的透過率和反射率等應(yīng)用。還可以做為標(biāo)準(zhǔn)，來校正機差，以及校正成像亮度計參數(shù)。不僅是科研，也是工廠中亮度，色度測量解決方案的不錯選擇。四、Photo Research 亮度計系列產(chǎn)品概述：PR-655 CCD探測器 128位線性TEC制冷 波段：380-780nm 帶寬：8nm 亮度范圍：0.68-102,774nitsPR-670 CCD探測器 256位線性TEC制冷 波段：380-780nm 帶寬：8nm 亮度范圍：0.034-8,565,000nitsPR-680 CCD/PMT雙路探測器 256位線性TEC制冷/光電倍增管 波段：380-780nm 亮度范圍：0.00 ...

是一種實用的光學(xué)材料，用于157納米光刻步進和掃描透鏡。制備高質(zhì)量的低應(yīng)力雙折射CaF2一直是一個挑戰(zhàn)。除了這種應(yīng)力誘導(dǎo)雙折射，約翰·伯內(nèi)特和他在NIST的同事們發(fā)現(xiàn)了CaF2沿<110>在157.6納米處的晶體軸徑為11.2納米/厘米這一消息對于光刻工業(yè)來說是一個不受歡迎的意外，因為他們錯誤地認(rèn)為屬于立方晶體群的CaF2是一種各向同性材料。在本質(zhì)雙折射的材料中，線偏振光沿著不同的晶體軸經(jīng)歷不同的折射率。雙折射也可以引入外部或殘余應(yīng)力在大塊材料。在非常短的波長(即157 nm)， CaF2顯示應(yīng)力誘導(dǎo)雙折射和更強的內(nèi)稟雙折射(也稱為空間色散雙折射)。CaF2中的雙折射為高性能的印刷 ...

激光束在光敏光學(xué)材料中產(chǎn)生雙光子吸收。只有發(fā)生雙光子吸收的微小體積內(nèi)才會變成固體，從而提供了一種創(chuàng)建高分辨率3D元素的方法。雖然這種3D直接激光打印已經(jīng)使用了一段時間，但在光纖尖端上制造如此小的光學(xué)器件時，很難獲得正確的比例和對齊?！霸陂_始制造過程之前，我們能夠通過執(zhí)行高精度的2D和 3D模擬實驗來克服這一障礙，” Lightmant說?！按送?，我們必須仔細考慮如何將光學(xué)元件相互集成，然后將其與光纖芯對齊。”在基于模擬進行周密規(guī)劃后，研究人員使用商用3D直接激光寫入系統(tǒng)和高光學(xué)質(zhì)量光敏聚合物打印出直徑為60微米、單模端部高110微米的110微米高光學(xué)器件光纖。該設(shè)備包括一個用于光準(zhǔn)直的拋物面透 ...

由各向同性的光學(xué)材料制成的，如石英等。PEM具有高調(diào)制純度、效率、寬波段響應(yīng)、高功率、優(yōu)異的延遲穩(wěn)定性等特點，廣泛應(yīng)用于偏振調(diào)制中。2.應(yīng)用舉例—線性雙折射偏振測量儀下圖展示了一個利用PEM，基于雙折射原理，測試樣品延遲大小和方向的裝置結(jié)構(gòu)圖。2.1線性雙折射偏振測量儀結(jié)構(gòu)包含了一個偏振調(diào)制模塊(光源，偏光片和一個PEM)、一個安裝在機控X-Y位移臺上的樣品安裝架以及雙通道探測組件。每個探測通道包含一個檢偏器和探測器。通道1(交叉起偏器)測量和PEM(0°)光軸平行的線性延遲分量，通道2測量和PEM光軸成45°方向的線性延遲分量。接下來使用Mueller矩陣來分析裝置，到達兩個探測器的光強可表 ...

用特殊色散的光學(xué)材料，如螢石（CaF2）或特種光學(xué)玻璃。這些材料的折射率均很低，又要校正色球差，故復(fù)消色差物鏡的結(jié)構(gòu)要較消色差物鏡復(fù)雜得多。下圖5為一數(shù)值孔徑為1.25 的100倍復(fù)消色差物鏡，其中陰影部分是螢石透鏡。由于這種物鏡倍率色差較大，需與相應(yīng)的補償目鏡配合使用。圖5三、平場消色差物鏡和平場復(fù)消色差物鏡由于復(fù)消色差物鏡仍然具有較大的像面彎曲，不能在平的接收面上給出整個視場的清晰像，為作顯微投影或顯微攝影，zui好應(yīng)用平場物鏡。這種物鏡的主要問題是設(shè)法減小或校正匹茲凡和，辦法是在系統(tǒng)中加入彎月形厚透鏡或正負(fù)光焦度分離的薄透鏡成分，或二者兼用，因此必然導(dǎo)致結(jié)構(gòu)的復(fù)雜化。下圖6所示為一數(shù)值孔 ...