管內腔模式、光柵（或濾光片）和外腔模式的色散之間的競爭。這些元件隨溫度、腔長或光柵（或濾光片）角度的變化體現出的不同模式表現，限制了激光頻率的穩定性和頻率可連續調諧的范圍。首先需要知道的是在激光器諧振腔內部會發生模式競爭，雖然各模式的頻率不同，但使用相同的反轉粒子數，因此在均勻加寬的激光器中，滿足閾值條件的縱模在振蕩過程中相互競爭，導致只有相對靠近中心頻率的縱模取勝，而其他模式都被抑制。而跳模正是因為模式競爭而引發的。如下圖所示，在圖（a）中νq相比νq+1更靠近中心頻率ν0，因此在模式競爭中νq取勝，激光器輸出激光頻率即為νq。但是由于半導體激光器的輸出頻率受到溫度以及腔長的影響，當腔內溫度 ...

度下，較寬的光柵可以在給定的曝光時間內收集更多的光子，但代價是較低的光子到達時間分辨率。正如我們將看到的，這不是一個基本的極限。該軟件允許選擇門配置(長度)，每1位幀的激光脈沖數(曝光)，每個門圖像的位深度(8或10位)(動態范圍)，兩個連續門位置之間的延遲(步長)，以及數據集中門圖像的數量。柵極特性影響時間分辨成像性能，影響熒光壽命測定的準確性和精密度。對于大視場系統，測量的空間均勻性是由柵邊位置分布或傾斜決定的。在大尺寸傳感器中，門信號的傾斜和高頻信號切換期間可能的電壓下降導致陣列的門邊緣非均勻性。隨著柵極長度的增加，上升邊緣傾斜明顯縮小(在表1的Z后一行旁邊)。這種效應可以歸因于信號轉換 ...

子通過；由于光柵光譜儀的吞吐量可以產生顯著的偏振依賴性，從而使信號的偏振依賴性發生顯著扭曲，因此采用半波片來保持進入光譜儀的信號的偏振方向相對于光柵槽方向不變。由于大多數光學元件都有一定程度的偏振依賴性，因此在設計光學系統時必須謹慎，以獲得準確的結果。例如，由于s偏振和p偏振的反射率不同，入射到鏡子上的光應該是純s偏振或p偏振，以避免由于反射而引入橢圓偏振。即使如此小心，也不能完全排除光學元件的退極化效應。物鏡的高數值孔徑也會導致小的退極化效應。雖然這些影響通常很小，可以忽略不計，但如果需要以更高的精度分析偏振依賴性，則需要基于Stokes-Mueller方法的更仔細的校準程序。激光束通過顯微 ...

洞)到達衍射光柵(參見圖2)。光柵把光按波長展開，就像棱鏡把白色的光轉換成彩虹一樣。一個寬帶光，例如太陽光是由很多不同波長的光組成的。當衍射光柵暴露在這種類型的光下，它將從多角度反射光線產生了一個分散的光譜就像一道彩虹。類似地，如果光柵接觸了一種單一光源，比如一束激光，那么只有激光的特定波長的光會被反射。圖1 PR-788光譜測量范圍對于PR-655、PR-670和PR-788測量波長范圍是380納米(nm)(紫色)到780nm(深紅色)-即電磁波的可見光譜段 (參見圖1)。衍射光譜到達CCD探測器；PR-655探測器是128位的線性探測器，PR-670探測器是256位的線性探測器，PR-78 ...

位分布的全息光柵，光束經過該面反射后即可生成渦旋光束。該方法與螺旋相位板法原理非常相似，只是實現方法不同，螺旋相位板的通過透射光程變化實現，空間光調制器是通過液晶反射控制相位，但都使光束被賦予螺旋相位。全息圖法也與前兩種相似，只是通過全息片使光束被賦予螺旋相位產生渦旋光束。利用螺旋相位板法產生渦旋光束能夠實現較高的效率轉換，并且能夠克服空間光調制器的缺點對高功率的激光束進行轉換。但一個螺旋相位板只能產生一個固定的拓撲荷的渦旋光束，而空間光調制器則更靈活，可根據需求調整。此外，加工技術上高質量的螺旋相位板加工困難，成本較高，但在應用中更為緊湊方便。相關文獻：[1]陳志婷. 渦旋光束的特性研究. ...

/毫米的衍射光柵和一個索尼ILX511線性硅CCD探測器組成。光譜儀的分辨率為~ 1 nm，在532 nm激發下，較大可達到的拉曼光譜分辨率在100 cm?1時為~35 cm?1，在3000cm?1時為~ 25 cm?1。光譜儀在工廠進行了預校準，軟件模塊內置了拉曼位移模式下的光譜記錄功能。另外，光譜儀也可以單獨校準，然而幾乎沒有什么不同。更多詳情請聯系昊量光電/歡迎直接聯系昊量光電關于昊量光電：上海昊量光電設備有限公司是光電產品專業代理商，產品包括各類激光器、光電調制器、光學測量設備、光學元件等，涉及應用涵蓋了材料加工、光通訊、生物醫療、科學研究、國防、量子光學、生物顯微、物聯傳感、激光制造 ...

當布拉格衍射光柵，使輸入到器件的激光束以適當的角度偏轉。根據AOM的配置，多達90%的入射功率可以分配到布拉格光柵的①級衍射。調制是通過改變使用的射頻信號來實現的。在AOM中，通過壓電換能器在材料中形成布拉格光柵。技術比較對于大多數應用，EOM和AOM之間的選擇是基于幾個關鍵的性能和成本考慮。由于AOM通常是一個成本較低的選擇，除非應用方面對EOM的關鍵優勢之一有重大需求，一般AOM都是不錯的選擇。與AOM相比，EOM具有更大的孔徑、更高的功率和脈沖能量兼容性、非常高的對比度和快速的上升時間。而AOM則可以提供更高的調制速度。下表中總結了一些重要的參數及其典型值。速度/上升時間調制器的時間性能 ...

譜成像儀：一光柵分光，通過光柵將光譜展開，然后線陣推掃成像，比如Specim高光譜相機，覆蓋各種波長和領域；二可調諧濾波器分光，此原理相機不需要外置推掃或移動裝置，面陣成像，光譜掃描，比如Hinalea凝視型高光譜相機；三芯片鍍膜型高光譜相機，采用高靈敏ccd芯片及cmos芯片研制了一種新的高光譜成像技術，在探測器的像元上分別鍍不同波段的濾波膜實現高光譜成像，比如XIMEA和IMEC。除此此外還有比如內置推掃高光譜相機，芯片推掃高光譜相機等都屬于上述三大類當中。Specim高光譜相機原理采用的是面陣探測器，線陣推掃成像的方式，探測器自身垂直于運動方向掃描，獲得一維線視場的空間信息，并利用機械運 ...

，例如由兩級光柵產生的衍射級強度或菲涅耳圖像圖案的可見性 。基于衍射 方法原則上對環境干擾不太敏感，但相反，它們可能會受到殘余強度調制和/或與非衍射光相關的零級衍射引入的差異的影響。未包含在上述組中的其他類型的校準方法使用偏振設置。 基本上，為了獲得校準功能，沿交叉偏振器進行強度測量。 第①偏振器將輸入光束偏振相對于液晶分子的對齊軸旋轉 45°。 然后，將第②偏振器設置為相對于輸入偏振平面為-45°。 由于出于校準目的將相位變化轉換為強度波動/相移，因此上述配置稱為強度調制。 液晶 SLM 的完整特性可以通過包含附加偏振元件的系統進行。在這一點上，重要的是要提到大多數相位表征方法的準確性可能會 ...

座可調節衍射光柵的角度位置和反射鏡的角度/線性位置。這樣可以針對不同的波長范圍和分辨率配置工作臺，從而節省成本并提高批量生產的靈活性。它還降低了光學系統的穩定性。通常，建議每年重新校準一次波長。在有振動等的工業環境中使用這樣的系統可能具有挑戰性。固定光具座的所有組件均位于固定位置，并設置在環氧樹脂上。它非常堅固。然而，它只能用于指定的波長范圍和分辨率。不同的波長范圍需要不同的工作臺設計。40 毫米與80 毫米焦距工作臺。典型的小型光纖光譜儀具有40mm 或80mm FL 光具座。為了實現相同的波長分辨率，小型(40mm) 光譜儀需要具有2 倍色散的光柵（600 g/mm 與300 g/mm）。 ...