高橢偏測(cè)量的空間分辨率和測(cè)量效率成了必要研究的方向。橢偏成像技術(shù)由傳統(tǒng)橢偏測(cè)量系統(tǒng)結(jié)合光學(xué)成像技術(shù)、圖像采集技術(shù)、計(jì)算機(jī)技術(shù)構(gòu)成，縱向分辨率與傳統(tǒng)橢偏測(cè)量術(shù)相當(dāng)，膜厚測(cè)量精度可達(dá)埃級(jí)，同時(shí)具有高橫向分辨率、高靈敏度；可以對(duì)樣品表面光學(xué)成像的每個(gè)像元進(jìn)行橢偏測(cè)量，得到微區(qū)特性的精確定位測(cè)量，一定程度上提高了對(duì)微納區(qū)域的表征能力，橫向分辨率達(dá)到微米級(jí)；還可以對(duì)同一光斑區(qū)域的多元樣品進(jìn)行觀測(cè)，彌補(bǔ)了傳統(tǒng)測(cè)量技術(shù)的不足。目前，具有傳統(tǒng)橢偏測(cè)量技術(shù)和光學(xué)成像系統(tǒng)兩者優(yōu)點(diǎn)的橢偏成像技術(shù)發(fā)展迅猛，為納米檢測(cè)、生物醫(yī)學(xué)、半導(dǎo)體工業(yè)、集成電路等領(lǐng)域的材料性能表征提供了較大便利。如果您對(duì)橢偏儀有興趣，請(qǐng)?jiān)L問(wèn)上海昊 ...

用于空間和時(shí)間分辨研究的克爾-法拉第顯微鏡的系統(tǒng)雙色泵浦探針裝置的光源是一個(gè)Ti:藍(lán)寶石振蕩器，重復(fù)頻率為80 MHz，脈沖持續(xù)時(shí)間約為100 fs。中心波長(zhǎng)為840nm(紅外線)的激光束在BBO晶體中頻率翻倍至420nm(藍(lán)光)。基波光束在樣品位置的功率高達(dá)350mw，作為泵浦光束激發(fā)樣品。功率約為1mw的倍頻波束作為探測(cè)波束。圖1圖1顯示了在極性/法拉第(圖1a)和縱向(圖1b)幾何結(jié)構(gòu)中使用的光束路徑。在靜態(tài)測(cè)量的情況下，只使用藍(lán)色(探針)光束。對(duì)于時(shí)間分辨的測(cè)量，延遲級(jí)用來(lái)在泵浦脈沖和探測(cè)脈沖之間引入時(shí)間延遲。光路50mm的變化允許泵浦和探針光束之間的總時(shí)間延遲超過(guò)300ps。在通過(guò)物 ...

僅可以實(shí)現(xiàn)高空間分辨率，還可以實(shí)現(xiàn)高時(shí)間分辨率，因此可用于實(shí)時(shí)觀察磁性材料在外場(chǎng)作用下磁疇結(jié)構(gòu)的動(dòng)態(tài)變化。如果您對(duì)磁學(xué)測(cè)量相關(guān)產(chǎn)品有興趣，請(qǐng)?jiān)L問(wèn)上海昊量光電的官方網(wǎng)頁(yè)：http://www.arouy.cn/three-level-150.html更多詳情請(qǐng)聯(lián)系昊量光電/歡迎直接聯(lián)系昊量光電關(guān)于昊量光電：上海昊量光電設(shè)備有限公司是光電產(chǎn)品專業(yè)代理商，產(chǎn)品包括各類激光器、光電調(diào)制器、光學(xué)測(cè)量設(shè)備、光學(xué)元件等，涉及應(yīng)用涵蓋了材料加工、光通訊、生物醫(yī)療、科學(xué)研究、國(guó)防、量子光學(xué)、生物顯微、物聯(lián)傳感、激光制造等；可為客戶提供完整的設(shè)備安裝，培訓(xùn)，硬件開(kāi)發(fā)，軟件開(kāi)發(fā)，系統(tǒng)集成等服務(wù)。您可以 ...

。磁光技術(shù)的空間分辨率受衍射限制，但研究人員經(jīng)常低估光學(xué)顯微鏡的能力:分辨率幾乎可以比波長(zhǎng)小一個(gè)數(shù)量級(jí)。在比較不同的顯微技術(shù)時(shí)，應(yīng)該記住，有用的空間分辨率是由信噪比以及光斑大小或相互作用長(zhǎng)度決定的。定量的、“與平臺(tái)無(wú)關(guān)”的表征手段可以從作為空間頻率函數(shù)的信噪譜中獲得(例如，在具有相對(duì)平坦分布的特征作為空間頻率函數(shù)的測(cè)試樣品上測(cè)量)。然后，分辨率可以簡(jiǎn)單地定義為信噪比跨越單位的頻率(因此反比為波長(zhǎng)或空間尺度)。然而，如果希望將光學(xué)的橫向分辨率擴(kuò)展到納米尺度，那么在某種程度上，交叉到近場(chǎng)掃描技術(shù)是必不可少的。事實(shí)證明，這對(duì)磁成像來(lái)說(shuō)是相當(dāng)具有挑戰(zhàn)性的。如果您對(duì)磁學(xué)測(cè)量相關(guān)產(chǎn)品有興趣，請(qǐng)?jiān)L問(wèn)上海昊量 ...

磁光克爾效應(yīng)（MOKE）裝置磁光克爾效應(yīng)(MOKE)是測(cè)量圖像化磁性薄膜磁化強(qiáng)度的一種方法。克爾效應(yīng)是指入射線偏振光經(jīng)磁性材料反射后偏振態(tài)的變化在超薄層的情況下，這種效應(yīng)通常被稱為表面磁光克爾效應(yīng)由于采用激光束檢測(cè)樣品的磁化強(qiáng)度，該方法是非接觸式的，可用于真空沉積室的原位檢測(cè)。MOKE測(cè)量的典型設(shè)置包括穩(wěn)定的低噪聲光源，通常是連續(xù)波激光器，定義入射光偏振的線性偏振器，位于可變磁場(chǎng)中的樣品支架，分析儀和檢測(cè)器。一般來(lái)說(shuō)，整個(gè)光學(xué)系統(tǒng)的光噪聲和電子噪聲，包括光的產(chǎn)生和檢測(cè)，決定了被測(cè)MOKE信號(hào)的質(zhì)量。闡述了大量不同的MOKE測(cè)量方案，以提高信噪比。傳統(tǒng)的方法是基于測(cè)量反射光強(qiáng)度通過(guò)分析儀失諧約4 ...

提供了較大的空間分辨率。在Bitter方法中，磁性材料的表面覆蓋磁性納米顆粒，如果樣品處于真空或低溫環(huán)境中，則磁性納米顆粒來(lái)自膠體懸浮液或蒸發(fā)劑。在磁煙沉降過(guò)程中，粒子在疇壁的雜散微磁場(chǎng)中聚集。zui后的裝飾在光學(xué)或電子顯微鏡下成像，允許在多疇鐵磁體或被磁場(chǎng)穿透的超導(dǎo)體中分辨非常小(100nm)的磁性特征。繼Bitter之后，各種磁場(chǎng)成像技術(shù)得到了發(fā)展。目前應(yīng)用廣泛的儀器是磁力顯微鏡。在MFM中，磁性對(duì)比是通過(guò)鐵磁尖端與樣品雜散微磁場(chǎng)之間的靜磁相互作用來(lái)實(shí)現(xiàn)的，特別是在疇邊界處。在測(cè)量過(guò)程中，探頭尖端垂直于樣品表面振動(dòng)，并且由于雜散磁場(chǎng)的存在，振動(dòng)的頻率和振幅會(huì)發(fā)生梯度變化。MFM成像可以達(dá)到 ...

至幾納米的高空間分辨率，但耗時(shí)，需要昂貴的復(fù)雜儀器，仔細(xì)的樣品制備和高真空環(huán)境。磁力顯微鏡(MFM)通常用于表征磁性器件，但由于其侵入性磁尖，固有的速度很慢，不適合成像脆弱的磁化狀態(tài)。另一方面，磁光克爾效應(yīng)顯微鏡(MOKE)是一種非侵入性光學(xué)技術(shù)，在進(jìn)一步了解自旋霍爾效應(yīng)和zui近在環(huán)境條件下形成的磁性斯基米子氣泡方面發(fā)揮了巨大作用。MOKE的主要限制是它適用于表現(xiàn)出強(qiáng)克爾響應(yīng)的材料。有源MOKE層已應(yīng)用于某些材料類型以誘導(dǎo)MOKE響應(yīng)，然而這種侵入性方法可能會(huì)影響所研究器件的磁性。基于量子自旋態(tài)對(duì)外部磁場(chǎng)的敏感性，固體自旋系統(tǒng)為磁成像提供了一種新的方法。特別是，金剛石中帶負(fù)電的氮空位(NV) ...

料中氫含量的空間分辨率。氫引起的光學(xué)性質(zhì)的變化，特別是傳輸，提供了一種檢測(cè)材料中氫擴(kuò)散的非侵入性方法。大多數(shù)研究分別使用YHx和VHx的反射率和透射率變化來(lái)可視化氫擴(kuò)散。然而，研究氫在其他非透明金屬材料中的擴(kuò)散動(dòng)力學(xué)仍然是一個(gè)挑戰(zhàn)。除了已報(bào)道的光學(xué)研究外，還應(yīng)考慮由氫吸收和解吸引起的鐵磁薄膜磁性能的可逆變化。該方法可應(yīng)用于各種氫敏磁性pd合金，盡管氫致反射率變化有限，但氫致磁性變化的檢測(cè)是可行的。研究表明，在退火的Pd/Co/Pd三層和[Co/ Pd]多層中，由于Pd合金的界面效應(yīng)，可以觀察到氫化誘導(dǎo)的磁性調(diào)制。這是因?yàn)殁Z是氫分子解離的高效催化劑，而且鈀氫化物的形成對(duì)能量有利。富pd磁合金薄膜 ...

上獲得較大的空間分辨率，激光束必須同時(shí)準(zhǔn)直并填滿zui終物鏡的孔徑。輸出光束被擴(kuò)展，空間濾波，然后聚焦到AO調(diào)制器(AOM)。AOM的上升時(shí)間與光斑大小成正比。然后光束通過(guò)一系列中繼透鏡(稍后描述)產(chǎn)生準(zhǔn)直光束，該光束填充物鏡的孔徑，在樣品表面產(chǎn)生衍射限制斑。為了使掃描激光顯微鏡同時(shí)具有靜態(tài)和動(dòng)態(tài)成像能力，光學(xué)系統(tǒng)采用高斯光束光學(xué)(靜態(tài)模式)和傍軸光學(xué)(動(dòng)態(tài)模式)。光學(xué)系統(tǒng)示意圖如圖1所示。然后通過(guò)使用精密x-y級(jí)移動(dòng)樣品來(lái)完成靜態(tài)成像，幾何或近軸光學(xué)用于將SMI鏡像到SM2上，從而將該對(duì)鏡像到物鏡的后焦平面上。激光光斑現(xiàn)在可以在樣品表面進(jìn)行x-y掃描。然后，在返回的激光束到達(dá)探測(cè)器之前，使用 ...

色光波，橫向空間分辨率也已經(jīng)優(yōu)于10μm。德國(guó)的Nanofilm公司研制了一種通過(guò)更換濾光片來(lái)獲取多個(gè)波長(zhǎng)下樣品參數(shù)的光譜橢偏成像系統(tǒng)，該系統(tǒng)可以對(duì)樣品進(jìn)行更多波長(zhǎng)下的特性研究，但仍然無(wú)法提供連續(xù)光譜的測(cè)量。研究人員意識(shí)到需要實(shí)現(xiàn)連續(xù)光譜掃描和成像功能，才能對(duì)樣品實(shí)現(xiàn)全面的研究分析。之后的研究便將光譜橢偏和橢偏成像的優(yōu)點(diǎn)結(jié)合。韓國(guó)慶熙大學(xué)和中科院力學(xué)所先后將單色儀應(yīng)用到橢偏成像技術(shù)中，研究出的連續(xù)波長(zhǎng)掃描的光譜橢偏成像系統(tǒng)彌補(bǔ)了之前光譜測(cè)量的不足，實(shí)現(xiàn)單波長(zhǎng)到多波長(zhǎng)的光譜測(cè)量；可以測(cè)量材料在不同波長(zhǎng)下的特性，獲取樣品上各微區(qū)的光譜橢偏信息及其分布，具有可達(dá)到原子層分析水平的縱向分辨能力、可達(dá)光 ...